影響涂層測厚儀精度因素的有關(guān)說明
a） 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為
了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦
可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b） 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件
基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c） 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器
的臨界厚度值見附表1。
d） 邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e） 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面
上測量是不可靠的。
f） 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測出可靠的數(shù)據(jù)。
g） 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤
差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗
糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒
有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。
g） 磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h） 附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀
器測頭和被測試件表面直接接觸。
i） 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j） 測頭的取向
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測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

 12、蘭泰儀器的涂層測厚儀品種多樣，功能齊全，有單次連續(xù)兩種測量模式，方便對曲面及較薄的試件進(jìn)行測量，并且是在儀表量程內(nèi)校準(zhǔn)一點(diǎn)就可以了。zui大量程可達(dá)15㎜，有CM-8825、CM-8826、CM-8828、CM-8829、CM-8855、

   CM-8856等選擇。

廣州蘭泰儀器有限公司

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